Lluis Yedra Cardona

Lluis Yedra Cardona

Investigador Programa Juan de la Cierva

ORCID: 0000-0003-1818-9836
Scopus Author ID: 37108935200

Grupos de Innovación Docente: e-Lindo

Información de contacto
Departamento de Ingeniería Electrónica y Biomédica
C/Martí i Franquès 1 08028 Barcelona
(+34) 696137849
lluis.yedra(a)ub.edu

Formación académica

Enginyer de Materials . UB/UPC . 17/09/2009 . (Diplomatura / Licenciatura / Grado)
Towards a new dimension in analytical TEM: EELS, Tomography and the Spectrum Volume . Facultat de Física . 16/12/2013 . (Doctorado)
Enginyer Biomèdic . UB / UPC . 31/06/2011 . (Máster Oficial)

Docencia Impartida

Electrotècnia (Grado) - Ingeniería Química - Universidad de Barcelona.
Electrotècnia (Grado) - Ingeniería Química - Universidad de Barcelona.
Informàtica (Grado) - Ingeniería Electrónica de Telecomunicación - Universidad de Barcelona.
Informàtica (Grado) - Ingeniería Electrónica de Telecomunicación - Universidad de Barcelona.
Informàtica (Grado) - Física - Universidad de Barcelona.

Participación en Proyectos

Hacia nuevos métodos en microscopía electrónica de barrido y transmisión (TOME) . 2020 - 2024 . Ref.PID2019-106165GB-C21 . Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades . IP: Francisca Peiro Martinez; Sonia Estrade Albiol
E-LINDO. e-Lindo . 2008 - 2025 . Ref.GINDOC-UB/018 . Universitat de Barcelona . IP: Lluis Yedra Cardona

Publicaciones en revistas

Yedra, L.; Kumar, C.N.S. .; Pshenova, A.; Lentzen, E.; Philipp, P.; Wirtz, T.; Eswara, S. (2021). A correlative method to quantitatively image trace concentrations of elements by combined SIMS-EDX analysis. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 36(1), pp. 56 - 63 . https://doi.org/10.1039/d0ja00289e . ISSN: 0267-9477
Toulouse, C.; Fischer, J.; Farokhipoor, S.; Yedra, L.; Carlà, F.; Jarnac, A.; Elkaim, E. ; Fertey, P.; Audinot, J.-N.; Wirtz, T.; Noheda, B.; Garcia, V.;Fusil, S.; Peral Alonso, I. ; Guennou, M. and Kreisel, J. (2021). Patterning enhanced tetragonality in BiFeO3 thin films with effective negative pressure by helium implantation. Physical Review Materials, 5(2), p. 024404 . Repositorio Institucional . ISSN: 2475-9953
Upadhyay, MV; Slama, MB ; Gaudez, S; Mohanan, N ; Yedra, L; Hallais, S ; Heripre, E ;Tanguy, A (2021). Non-oxide precipitates in additively manufactured austenitic stainless steel. Scientific Reports, 11(1), p. 10393 . Repositorio Institucional . ISSN: 2045-2322
Baiutti, F ; Chiabrera, F ; Diercks, D ; Cavallaro, A ; Yedra, L ; Lopez-Conesa, L ; Estrade, S ; Peiro, F ; Morata, A ; Aguadero, A ; Tarancon, A. (2021). Direct Measurement of Oxygen Mass Transport at the Nanoscale. Advanced Materials, 2021, p. 2105622 . https://doi.org/10.1002/adma.202105622 . ISSN: 0935-9648
Cornet, L.; Yedra, L.; Heripre, E.; Aubin, V.; Schmitt, J.H.; Giorgi, M.L. (2022). In situ TEM Characterization of Phase Transformations and Kirkendall Void Formation During Annealing of a Cu-Au-Sn-Cu Diffusion Bonding Joint. Journal of Electronic Materials, 51(4), pp. 1568 - 1582 . https://doi.org/10.1007/s11664-021-09390-w . ISSN: 0361-5235

Patentes, Software y Bases de datos

Method and system for improving characteristic peak signals in analaytical electron microscopy (Paises Miembros de la Convención Europea de Patentes, 19/03/2012)