Información de contacto
Departamento de Ingeniería Electrónica y Biomédica
C/Martí i Franquès 1 08028 Barcelona (+34) 696137849 lluis.yedra(a)ub.edu
Formación académica
Enginyer de Materials
. UB/UPC
. 17/09/2009
. (Diplomatura / Licenciatura / Grado)Towards a new dimension in analytical TEM: EELS, Tomography and the Spectrum Volume
. Facultat de Física
. 16/12/2013
. (Doctorado)Enginyer Biomèdic
. UB / UPC
. 31/06/2011
. (Máster Oficial)
Docencia Impartida
Electrotècnia (Grado) -
Ingeniería Química -
Universidad de Barcelona.
Electrotècnia (Grado) -
Ingeniería Química -
Universidad de Barcelona.
Informàtica (Grado) -
Ingeniería Electrónica de Telecomunicación -
Universidad de Barcelona.
Informàtica (Grado) -
Ingeniería Electrónica de Telecomunicación -
Universidad de Barcelona.
Informàtica (Grado) -
Física -
Universidad de Barcelona.
Participación en Proyectos
Hacia nuevos métodos en microscopía electrónica de barrido y transmisión (TOME)
.
2020 - 2024
. Ref.PID2019-106165GB-C21
. Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades
. IP: Francisca Peiro Martinez; Sonia Estrade AlbiolE-LINDO. e-Lindo
.
2008 - 2025
. Ref.GINDOC-UB/018
. Universitat de Barcelona
. IP: Lluis Yedra Cardona
Publicaciones en revistas
Yedra, L.; Kumar, C.N.S. .; Pshenova, A.; Lentzen, E.; Philipp, P.; Wirtz, T.; Eswara, S.(2021).
A correlative method to quantitatively image trace concentrations of elements by combined SIMS-EDX analysis.Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 36(1), pp. 56 - 63
. https://doi.org/10.1039/d0ja00289e. ISSN: 0267-9477Toulouse, C.; Fischer, J.; Farokhipoor, S.; Yedra, L.; Carlà, F.; Jarnac, A.; Elkaim, E. ; Fertey, P.; Audinot, J.-N.; Wirtz, T.; Noheda, B.; Garcia, V.;Fusil, S.; Peral Alonso, I. ; Guennou, M. and Kreisel, J.(2021).
Patterning enhanced tetragonality in BiFeO3 thin films with effective negative pressure by helium implantation.Physical Review Materials, 5(2), p. 024404
. Repositorio Institucional. ISSN: 2475-9953Upadhyay, MV; Slama, MB ; Gaudez, S; Mohanan, N ; Yedra, L; Hallais, S ; Heripre, E ;Tanguy, A(2021).
Non-oxide precipitates in additively manufactured austenitic stainless steel.Scientific Reports, 11(1), p. 10393
. Repositorio Institucional. ISSN: 2045-2322Baiutti, F ; Chiabrera, F ; Diercks, D ; Cavallaro, A ; Yedra, L ; Lopez-Conesa, L ; Estrade, S ; Peiro, F ; Morata, A ; Aguadero, A ; Tarancon, A.(2021).
Direct Measurement of Oxygen Mass Transport at the Nanoscale.Advanced Materials, 2021, p. 2105622
. https://doi.org/10.1002/adma.202105622. ISSN: 0935-9648Cornet, L.; Yedra, L.; Heripre, E.; Aubin, V.; Schmitt, J.H.; Giorgi, M.L.(2022).
In situ TEM Characterization of Phase Transformations and Kirkendall Void Formation During Annealing of a Cu-Au-Sn-Cu Diffusion Bonding Joint.Journal of Electronic Materials, 51(4), pp. 1568 - 1582
. https://doi.org/10.1007/s11664-021-09390-w. ISSN: 0361-5235
Patentes, Software y Bases de datos
Method and system for improving characteristic peak signals in analaytical electron microscopy (Paises Miembros de la Convención Europea de Patentes, 19/03/2012)